gd6611光大

gd6611光大    當下電子產品外觀表面缺陷人工檢測工作量大，效率低而且漏檢率高，迫切需要產品缺陷的自動化檢測；實際檢測中，塑料制品表面在光照條件下會出現反光，嚴重影響后續處理；缺陷微小且與制品顏色對比不明顯，采用直接閾值無法分割；深圳3C電子產品外觀缺陷檢測設備生產廠家針對這一現狀將機器視覺技術與虛擬儀器相結合，根據產品缺陷特征，選擇合適的光照方案抑制反光，利用銳化濾波獲取了缺陷部位特征清晰的圖像，并對邊緣模糊缺陷有效分割；識別結果表明，圖像處理算法穩定，對絕大部分缺陷具有良好的檢測效果。

    半導體芯片作為3C電子產品的一種，廣泛應用于各個領域，各類電子產品，已經成為經濟發展，國家信息安全的命脈，深刻影響著現代人類的生活。在半導體芯片封裝制造過程中，不可避免地在芯片表面產生各類缺陷，直接影響到芯片的運行效能及壽命。傳統人工目視檢測法已經難以適應半導體芯片封裝制造的高速，高精度的檢測需求。深圳3C電子產品外觀缺陷檢測設備利用機器視覺技術對芯片表面缺陷進行檢測，具有無接觸無損傷，檢測精度高，速度快，穩定性高等優點。盡管目前基于機器視覺的芯片缺陷檢測技術在芯片打印字符，引腳外觀尺寸位置等方面的研究已取得很好的進展，但對于芯片表面的外觀缺陷檢測與分類研究尚處于起步。

gd6611光大    機器視覺作為一項先進自動化檢測技術，可有效提高生產效率和工業制造水平，視覺檢測可應用于產品外觀缺陷自動識別。